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天星渦流測厚儀ED400校正方法
更新時間:2025-02-26   點擊次數(shù):140次

天星渦流測厚儀ED400用于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度, 以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張的厚度。

天星渦流測厚儀ED400校正方法

采用電渦流原理,當(dāng)探頭與試樣接觸時,探頭線圈產(chǎn)生的高頻電磁場會在基體金屬表面感應(yīng)出渦電流,此渦電流產(chǎn)生的附加電磁場會改變探頭線圈參數(shù), 而探頭線圈參數(shù)改變量的大小則決定與涂層厚度相關(guān)的探頭到基體之間的距離。渦流測厚儀ED400在校正之后通過對探頭線圈參數(shù)改變量的測量,經(jīng)過計算機處理,就可得到覆蓋層的厚度值。

一、按鍵說明:

電源—電源開關(guān)鍵 。用于開啟或關(guān)閉電源。

統(tǒng)計—統(tǒng)計鍵。用于順序讀取一組測量數(shù)據(jù)的平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測量次數(shù)。

清除—刪除鍵。 用于刪除當(dāng)前測量值或一個校正步驟。

校正—校正鍵 。用于校正儀器。

“ "—下調(diào)鍵 。在校正狀態(tài)時,用于將顯示值調(diào)低。

" "—上調(diào)鍵。在校正狀態(tài)時,用于將顯示值調(diào)高,組合鍵一兩個按鍵配合使用可得到新功能,如下表:

天星渦流測厚儀ED400校正方法

注:組合鍵的使用方法,按住組合鍵松開。儀器顯示"-一 " 之后顯示 "O" 或 "00" , 功能設(shè)定完成。

按電源開關(guān)鍵,接通電源,儀器開始執(zhí)行自檢程序,顯示所有符號后發(fā)出一聲鳴音,顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進入測量狀態(tài),此時可直接進行測量操作。

二、操作步驟:

1、測量:

手持探頭的塑料部分,將探頭平穩(wěn)、垂直的落到清潔、干燥的試件上,儀器鳴叫一聲,顯示出膜厚值(測量時用力不要過大,以免損傷探頭)。抬高探頭,重新落下,可完成下一次測量。探頭抬高的高度應(yīng)大于10mm,  持續(xù)時間應(yīng)大于2秒鐘。一般每一測量點應(yīng)測量 5-10次,然后讀取統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

2、統(tǒng)計:

按動統(tǒng)計鍵可依次循環(huán)顯示以下統(tǒng)計數(shù)據(jù):

MEAN—平均值

MAX—最大值

MIN—最小值

S — 標(biāo)準(zhǔn)偏差

N — 測量次數(shù)

再次測量時,可直接進入下一組測量數(shù)據(jù)。

3、刪除:

在測量過程中,如果因為探頭放置不穩(wěn)或其它原因,出現(xiàn)了一個明顯錯誤的測量值,可按動刪除鍵將其刪除,不計入統(tǒng)計。天星渦流測厚儀ED400在校正狀態(tài)下,按動一次刪除鍵可刪除最后一個測量值,按動兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測量值。

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